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XTD-200
XTD-200

高性能全自动荧光光谱仪XTD-200

● 涂镀层厚度分析

● 各层合金成分分析


所属分类:涂镀层厚度

关键词:涂镀层测厚 成分分析


全新上照式设计,微聚焦,搭载可编程自动位移平台,无人值守、自动检测多样品,且更加智能化,采用自主研发的AI影像识别功能可完成智能寻点,自动匹配测试。对各超大异形件及微小密集型多点的测试更加高效、智能。

 

性能优势

● 变焦装置及位置补偿算法

可对各种异形凹槽件进行无损检测,可测凹槽深度范围:0-90mm

● 测量速度快、效率高

一键测试、各部件置入下位机控制,搭载可编程自动化移动平台,移动精度微米级,一次编程坐标存储无人值守检测成百上千个样品

● 微焦X射线装置

搭载微聚焦X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统,最小测量面积达0.002mm²

● 自动智能检测

大行程内无人值守自动测量,搭配A影像识别,实现自动、智能、在线检测

● 自主研发的EFP算法

Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元素,甚至有同种元素在不同层也可精确测量


技术参数

 

型号

XTD-200

测量元素范围

Cl(17)- U(92)

涂镀层分析范围

Li(3)- U(92)

EFP算法

标配

分析软件

同时分析23个镀层,24种元素

不同层相同

元素检测能力

标配

软件操作

人性化封闭软件,自动判断故障提示校正及操作步骤,避免误操作

X射线装置

微聚焦加强型射线管

信号及接收

Pro-SD处理器+PC

准直器

Φ0.05mm;Φ0.1mm;Φ0.2mm;□0.03*0.2mm;

四准直器自动切换(可定制单准)

微光聚焦技术

最近测距光斑扩散度小于10%

测量距离

具有距离补偿功能,可改变测量距离测量凹凸异形样品,可测凹槽深度范围:0-90mm

对焦方式

高敏感镜头,无感自动对焦

仪器尺寸

深760mm*宽550mm*高635mm

Z轴移动范围

145mm

样品台移动方式

全自动高精密XY平台

可移动范围

210mm*240mm

标准样品台尺寸

310mm*335mm

其他附件

电脑一套、打印机、附件箱、十二元素片、标准片、电镀液测量杯(选配)

X射线标准

DIN ISO 3497、ASTM B 568





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