日本Rigaku公司是全球领先的X射线分析、热分析与无损检测仪器制造商，总部位于日本东京，在全球多地设有生产基地、研发中心与实验室设施，通过遍布世界的子公司与分支机构为科研机构、工业企业及各类分析测试机构提供全面的分析解决方案。公司自创立以来，始终致力于X射线科学相关技术的创新与发展，凭借深厚的技术积累与持续的研发投入，在X射线衍射、X射线荧光光谱、X射线小角散射等多个领域取得众多开创性成果，成为该领域的全球开拓者之一。理学公司以“用观察的力量改变世界”为理念，不断推出适应不同应用场景的高性能分析仪器，其产品广泛应用于材料科学、生命科学、半导体、制药、冶金、地质等多个行业，帮助用户解决从基础研究到工业质量控制的各类分析难题。公司注重技术创新与用户需求的结合，不仅提供先进的仪器设备，还配套完善的软件系统与专业的技术支持服务，助力用户提升分析效率与研究水平，推动各领域科学技术的进步与发展。
日本Rigaku公司的X射线衍射仪测角仪系列涵盖适用于粉末衍射、单晶衍射、薄膜分析、应力分析等多种应用的产品，主要包括SmartLab系列的多功能测角仪、Ultima IV系列的高分辨率垂直θ/θ测角仪、MiniFlex系列的紧凑型测角仪、XtaLAB系列的四圆Kappa测角仪以及UG3第三代通用测角仪等核心型号。SmartLab系列测角仪采用水平样品定位设计，可有效减少大尺寸样品因重量产生的变形影响，降低样品掉落风险，配备高分辨率编码器，能以精细步长精确控制各轴转动，部分型号还可选配五轴测角仪与面内臂，支持多种先进测量模式，搭配全自动光束切换组件与高能量分辨率二维探测器，可实现从常规粉末衍射到原位动态分析的全方位应用。Ultima IV系列的垂直θ/θ测角仪拥有标准半径，具备宽广的2θ角度测量范围，支持相关θs/θd或θs、θd独立的扫描方式，适配D/tex Ultra阵列探测器，能满足高分辨率衍射分析需求，适用于材料结构表征、物相定量分析等场景。MiniFlex系列测角仪作为紧凑型设计产品，兼顾性能与便携性，适合常规粉末X射线衍射分析，可完成物相定性定量分析、结晶度测量等基础应用，搭配专用软件系统，操作便捷高效。XtaLAB系列的四圆Kappa测角仪则专为单晶X射线衍射设计，各轴拥有宽广的转动范围，扫描速度快，适配微聚焦X射线源与高灵敏度探测器，能快速获取单晶三维结构信息，广泛应用于小分子与大分子晶体结构分析。UG3第三代通用测角仪是与电动测角仪头协同设计的产品，采用纤薄外形与无电缆设计，在不影响精度与精密度的前提下满足现代晶体学研究的需求，适配多种XtaLAB Synergy系列X射线衍射仪，提升仪器整体性能与操作便利性。全系列测角仪均采用精密制造工艺，具备良好的角度重现性与稳定性，搭配理学公司的专用软件，可实现自动化测量与数据分析，满足从基础科研到工业检测的各类应用需求，帮助用户获得准确可靠的分析结果。
日本Rigaku公司主要产品型号如下，欢迎咨询选购：
一、X射线衍射仪（XRD）系列
1. 多功能X射线衍射仪
1. SmartLab系列
- SmartLab
- SmartLab SE
- SmartLab XE
- SmartLab Studio II
- SmartLab TF（薄膜分析专用）
- SmartLab PWD（粉末衍射专用）
2. Ultima IV系列
- Ultima IV
- Ultima IV+
- Ultima IV XRM
2. 台式/紧凑型X射线衍射仪
1. MiniFlex系列
- MiniFlex 600
- MiniFlex XpC
- MiniFlex 600 XpC
- MiniFlex 300/300 XpC
3. 单晶X射线衍射仪
1. XtaLAB系列
- XtaLAB Synergy
- XtaLAB Synergy-i
- XtaLAB Synergy-S
- XtaLAB Synergy-ED（电子衍射系统）
- XtaLAB mini
- XtaLAB Pro
- XtaLAB P200
4. 专用X射线衍射系统
1. NANO-Viewer（小角X射线散射仪）
2. XRTmicron（X射线形貌成像系统）
3. XTRAIA XT系列（X射线形貌成像系统）
二、X射线荧光光谱仪（XRF）系列
1. 波长色散型XRF（WDXRF）
1. ZSX Primus系列
- ZSX Primus IV
- ZSX Primus IVi
- ZSX Primus III
- ZSX Primus II
2. Simultix系列
- Simultix 15（高速同时型WDXRF）
- Simultix 20
3. Micro-Z系列
- Micro-Z ULS（超低硫分析专用）
2. 能量色散型XRF（EDXRF）
1. NEX系列
- NEX CG
- NEX QC+
- NEX DE
- NEX XT
2. MESA-50系列
3. benchtop EDXRF系列
3. 全反射X射线荧光光谱仪（TXRF）
1. TXRF系列
- TXRF 3760
- TXRF310Fab
- TXRF-V310
- WaferX 310
三、热分析仪器系列
1. 差示扫描量热仪（DSC）
1. Thermo plus EVO2系列
- DSCvesta
- DSC8230
- DSC8270
2. DSC系列
- DSC6200
- DSC6220
2. 热重分析仪（TGA）
1. Thermo plus EVO2系列
- TG8120
- TG8121
- TG8122
2. TGA系列
- TGA8120
- TGA8121
3. 同步热分析仪（STA）
1. Thermo plus EVO2系列
- STA8400
- STA8420
- STA8430
2. STA系列
- STA8310
- STA8320
4. 热机械分析仪（TMA）与动态热机械分析仪（DMA）
1. TMA8310
2. DMA8000系列
- DMA8000
- DMA8000H
四、X射线成像与CT系统
1. 显微CT（micro-CT）
1. CT Lab系列
- CT Lab HX
- CT Lab GX
- CT Lab GX2
2. nanoCT系列
2. X射线检测系统
1. inspeXio系列
- inspeXio SMX-225CT FPD HR
- inspeXio SMX-100CT
- inspeXio SMX-225CT FPD
2. X射线透视系统
- X射线实时成像系统
- X射线数字平板探测器系统
五、半导体计量与检测仪器
1. 晶圆检测系统
1. WaferX系列
- WaferX 310
- WaferX 320
2. 薄膜应力测量系统
3. 晶体取向测量系统
2. 缺陷检测系统
1. X射线形貌成像系统
- XTRAIA XT系列
- XRTmicron
六、生命科学仪器
1. 生物大分子分析系统
1. MoleQlyze系列（溶液中生物大分子结构研究）
2. 蛋白质晶体学分析系统
- XtaLAB Synergy系列
- XtaLAB Pro系列
2. 小动物成像系统
1. 小动物CT系统
2. 小动物X射线成像系统
七、工业与环境分析仪器
1. 汞分析系统
1. PE系列
2. WA系列
3. 在线汞监测系统
2. 石油产品分析仪器
1. Micro-Z ULS（超低硫分析）
2. 石油产品元素分析仪
3. 材料检测仪器
1. 残余应力分析仪
2. 织构分析仪
3. 颗粒度分析仪
八、探测器与光学组件
1. X射线探测器
1. HyPix系列
- HyPix-3000
- HyPix-6000
- HyPix-9000
2. D/tex系列
- D/tex Ultra
- D/tex One
3. PILATUS系列（光子计数探测器）
其他注意事项：
更详细的技术资料需通过提供项目详情获取，欢迎咨询。
我公司自营进出口权，直接海外采购，国外现货航空件几天就能交到您的手中。
