Bruker Corporation（布鲁克公司）是全球领先的科学仪器制造商，成立于1960年，总部位于美国马萨诸塞州比勒瑞卡（Billerica）。公司专注于 高端分析仪器 的研发与生产，产品覆盖 纳米技术、生命科学、材料研究和工业应用 领域，尤其在 原子力显微镜（AFM） 和 探针技术 方面处于行业领先地位。
原子力显微镜（AFM）
高分辨率表面形貌与物性测量
生物AFM、电学AFM、纳米力学AFM
探针技术
高性能AFM探针（如 RTESPA-300）
专用探针（导电、磁性、生物兼容等）
纳米表征系统
与光学显微镜、拉曼光谱联用
RTESPA-300 是 Bruker 旗下的一款 高频轻敲模式AFM探针，专为 高分辨率成像 设计，适用于材料科学、半导体和生物样品的高精度表面形貌分析。
| 型号 | 针尖半径 | 共振频率 | 弹性系数 | 典型应用 |
|---|---|---|---|---|
| RTESPA-300 | <8 nm | 300 kHz | 40 N/m | 高分辨形貌成像（半导体、二维材料） |
| RTESPA-300-30 | <8 nm | 300 kHz | 30 N/m | 软材料成像（聚合物、生物样品） |
| RTESPA-300-50 | <8 nm | 300 kHz | 50 N/m | 硬材料成像（金属、陶瓷） |
| RTESPA-300-CB | <8 nm | 300 kHz | 40 N/m | 导电AFM（C-AFM）测量 |
超尖锐针尖：针尖半径 <8 nm，可实现原子级分辨率成像。
高频轻敲模式：共振频率 300 kHz，减少噪声干扰，提高扫描速度。
高弹性系数：40 N/m（标准版），适用于大多数样品。
可选导电涂层（RTESPA-300-CB）：用于 导电AFM（C-AFM） 和 开尔文探针力显微镜（KPFM）。
Dimension Icon / FastScan AFM（Bruker 高端AFM）
MultiMode 8 / NanoScope V（常规AFM系统）
BioAFM（生物样品兼容）
半导体行业
硅片表面缺陷检测
光刻胶形貌分析
材料科学
石墨烯、MoS₂ 等二维材料层数识别
纳米颗粒、薄膜粗糙度测量
生物研究
蛋白质、DNA 高分辨成像（需搭配软悬臂版本）
| 探针型号 | 特点 | 适用场景 |
|---|---|---|
| SCANASYST-AIR | 标准轻敲模式探针，k=0.4 N/m | 常规形貌成像 |
| PFQNE-AL | PeakForce QNM® 纳米力学探针 | 弹性模量、粘附力测量 |
| TESPA-V2 | 高频探针（320 kHz），针尖<10 nm | 超高分辨成像 |
RTESPA-300 是 Bruker 高性能AFM探针 的代表产品，适用于 高分辨、高速扫描 需求。
提供 标准版、软材料版、硬材料版和导电版，满足不同实验需求。
广泛应用于 半导体、纳米材料、生物医学 等领域。
（注：N/m = 牛顿每米；kHz = 千赫兹；nm = 纳米。）
其他注意事项：
更详细的技术资料需通过提供项目详情获取，欢迎咨询。
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